Current Research Information SysTem In Norway
 
 

 English version


 
Hovedside
Forskningsresultater/NVI
Forskere
Prosjekter
Forskningsenheter
Logg inn
Om Cristin
 
 
   
Eksporter til


Viser treff 1-1 av 1

1 Weiser, Philip Michael; Monakhov, Eduard; Haug, Halvard; Wiig, Marie Syre; Søndenå, Rune.
Hydrogen-related defects measured by infrared spectroscopy in multicrystalline silicon wafers throughout an illuminated annealing process. Journal of Applied Physics 2020 ;Volum 127.(6) s. -
IFE UiO Untitled